芯片老化试验箱
发布日期：2020/11/5 14:36:44 点击次数：2024
产品特点
SATAI/II/III 的测试
ISATA,PCIE的测试片数定制化，例如 96片、156片、216片、316片等等
温度范围可选-70度~ + 180度的测试
具备异常断电测试和老化测试
自动化温控测试
全部采用软件进行智能化控制测试
可个性化定制测试软件
快速升降温控制
支持 PCIE/EMMC/UFS/DRAM/-Flash老化的定制化测试
网络化控制，可以异地控制测试并看测试结果
可开发APP远程控制测试
性能技术指标
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型号
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TYCT-300
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温度控制范围
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RT
+ 5℃~ + 150℃可选
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融分布均匀度（空载）
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±2℃
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测试数量
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300片可选
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电源
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220VAC ±10%, 50HZ
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